坐標測量機（CMM）是一種通過用探針感應物體表面上的點來測量物體幾何形狀的設備。 Renishaw是坐標測量機生產領域的領導者，并且最近宣布推出其SFP2，這種表面光潔度測量探頭設計用于坐標測量機上的REVO 5軸測量系統(tǒng)。新型SFP2探頭增加了REVO系統(tǒng)的表面光潔度測量能力; REVO系統(tǒng)在單個坐標測量機上提供觸摸觸發(fā)，高速觸覺掃描和非接觸式視覺測量的多傳感器功能。

結合CMM的表面光潔度測量和尺寸檢測相對于需要單獨處理的更傳統(tǒng)檢測方法具有幾個優(yōu)點。 SFP2的自動化表面光潔度檢測由5軸測量技術提供支持，可節(jié)省大量時間，減少零件處理量，并獲得更高的CMM投資回報。 SFP2系統(tǒng)包括一個探頭和一系列模塊，并可與REVO提供的所有其他探頭選件自動互換。這意味著用戶可以靈活地選擇他們需要的工具來檢查同一個CMM平臺上的各種功能。來自多個傳感器的數(shù)據(jù)會自動參考一個公共數(shù)據(jù)。

表面處理系統(tǒng)由與REVO系統(tǒng)相同的I ++ DME兼容界面管理，雷尼紹的MODUS計量軟件提供全面的用戶功能。

其他優(yōu)勢包括與標準CMM檢測程序完全集成的表面光潔度管理，這歸功于使用MRS-2機架和RCP TC-3端口自動更換SFP2探針和觸針支架。 SFP2探頭利用REVO頭的無限定位和5軸移動功能，以及一個整體式探頭C軸以及各種頭部幾何形狀和模塊與支架之間的關節(jié)連接，提供最難以觸及的特征。

雷尼紹的5軸REVO測量系統(tǒng)是CMM的唯一掃描系統(tǒng)，它可同時控制三個機床和兩個頭軸的運動，同時收集工件數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)上，表面測量是使用手持式傳感器進行的，或者要求將零件移動到專用測量機器上。 REVO系統(tǒng)使表面測量更容易，將其集成到CMM測量中，并允許用戶在掃描和表面光潔度測量之間切換。

憑借其2D和3D觸覺探頭，表面光潔度測量和非接觸式視覺探頭的范圍，REVO系統(tǒng)使得對CMMs的部件檢測更加快速和準確。如果您想了解更多關于SFP2系統(tǒng)，其功能和優(yōu)點，以及它如何幫助您將表面光潔度檢測作為CMM程序的一部分，那么您可以在此處進行。

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